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Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀
2016/8/26 [4481]

無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數,還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應用。


Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產品特點:

  • 非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;

  • 高精度與寬量程&:垂直分辨率達納米級,可測厚度范圍從1nm至3mm;

  • 多場景適用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。

  • 測量速度快:配置完成后,數秒內即可完成測量。


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