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選購主動式減震系統的幾個注意事項
2025-10-14
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實驗室的工作追求的是性，可是環境振動源的影響很容易成為一個問題，一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法獲得的實驗數據。主動式減震系統就是為了解決這一問題產生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水平、穩定的臺面。實驗或測量不受振動因素。為了達到理想的效果，減震平臺必須滿足幾個條件。首先，它必須有一個剛性臺面，能夠穩定地固定實驗儀器。其次，它沒有固有共振，而且能夠有效地抑制由實驗中電機或移動部分產生的任何振動，并能夠隔離環境振動對實驗裝置的影響。下面我們來說說選購主動式減震...
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KLA光學輪廓儀在超薄膜厚度測量中的關鍵應用
2025-9-19
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KLA光學輪廓儀在鈣鈦礦電池到半導體制造的超薄膜厚度測量中，憑借其高精度、非接觸式測量和多功能性，成為關鍵工具，具體應用如下：一、鈣鈦礦太陽能電池中的超薄膜厚度測量TCO層測量：重要性：TCO層是鈣鈦礦太陽能電池的重要組成部分，必須在導電性能良好的情況下具有很高的透光率、低電阻和高熱穩定性。測量實例：使用KLA光學輪廓儀，可以精確測量玻璃上IZO薄膜的厚度，如6.8nm和37.1nm的樣品。ETL層測量：重要性：ETL層在鈣鈦礦太陽能電池中具有收集電子、傳輸電子并阻隔空穴以降...
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光學表面輪廓儀是一種用于測量和繪制物體輪廓的裝置
2025-9-15
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光學表面輪廓儀通常由一個激光測距儀和一個移動平臺組成。激光測距儀通過發射激光束并接收返回的激光信號，可以精確地測量物體的距離。移動平臺則用于控制激光測距儀在水平和垂直方向上的移動，從而實現對物體輪廓的全面掃描。在測量過程中，光學表面輪廓儀會將物體的輪廓點云數據采集下來，并通過特定的算法進行處理和分析。這些算法可以將點云數據轉化為三維模型，并進一步提取出物體的尺寸、曲率、角度等信息。利用這些數據，工程師和設計師可以更好地了解物體的結構和形狀，從而進行下一步的設計和制造工作。光學...
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XRF鍍層測厚儀常見故障場景及應對方案
2025-9-12
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XRF鍍層測厚儀是高精度分析設備，長期使用可能因環境、操作或部件老化出現故障。及時排查隱患可保障測量穩定性，本文總結常見故障場景及應對方案。??一、測量數據偏差異常????1.基材污染??若數據持續偏高，需檢查樣品表面是否殘留油污或氧化層。用酒精/丙酮擦拭后重新測量，若差異5%，需用砂紙輕拋基材表面消除干擾。??2.標樣校準失效??定期用標準膜校準，若比對偏差±10%，需重新標定。注意：校準時選擇與樣品同基材的標準片，避免材質差異導致誤差。??二、X射線發生器異...
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光學膜厚測量儀常見故障的維修解決方法
2025-9-9
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光學膜厚測量儀是一種用于測量材料表面涂層厚度的精密儀器，廣泛應用于金屬、塑料、陶瓷等材料的涂層厚度檢測。在日常使用過程中，膜厚儀可能會出現一些故障，需要進行維修。光學膜厚測量儀常見故障的維修解決方法：1.膜厚儀無法開機先檢查電源線是否連接正常，電源插座是否有電。如果電源沒有問題，可能是儀器內部的電源模塊出現故障，需要更換電源模塊。在更換電源模塊時，務必關閉電源，避免觸電。2.膜厚儀顯示異常如果膜厚儀在使用過程中出現顯示異常，如顯示閃爍、亂碼等現象，可能是顯示屏或顯示驅動電路出...
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“納米級火眼金睛”：解密KLA光學輪廓儀的科技力量
2025-8-20
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在半導體、先進材料與精密制造領域，KLA公司作為檢測與量測設備供應商，其研發的光學輪廓儀（如KLA-Tencor系列）被譽為“納米級火眼金睛”。這類非接觸式三維表面形貌測量系統，廣泛應用于芯片制造、存儲器件、光電子和研發實驗室，用于精確表征微觀結構的幾何形貌與表面質量，是保障先進制程良率的核心工具。精準用途：為微觀世界“畫像”KLA光學輪廓儀主要用于測量晶圓表面的臺階高度、薄膜厚度、表面粗糙度（Ra、RMS）、翹曲度、缺陷形貌及微結構尺寸（如Trench、Via）。在半導體工...
